<fieldset id="okmsm"></fieldset>
<fieldset id="okmsm"></fieldset>
X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應用領域有：
? 測量大規模生產的電鍍部件
? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
? 全自動測量，如測量印刷線路板
? 分析電鍍溶液
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210設計理念
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。
菲希爾X射線測厚儀
上一篇 : 菲希爾XULM240 X射線鍍層測厚儀信息
下一篇 : 菲希爾鍍層測厚儀XDL230信息
蘇公網安備32021402002647
咨詢電話