FISCHERSCOPE  X-RAY XDL210菲希爾X射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER技術(shù)參數(shù)表如下：

菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210

X 射線熒光光譜儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

菲希爾x-ray射線鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類似，它尤其適合無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。zui多可同時(shí)測(cè)量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。