菲希爾鍍層測厚儀納米X熒光射線

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對保護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準(zhǔn)直器和固定的濾片。適合測量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用；跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺

 菲希爾鍍層測厚儀納米X熒光射線

X射線熒光分析法 (XRFA)：
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能*勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
X射線熒光法（XRFA）的優(yōu)點(diǎn)：
快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）
分析固態(tài)，粉末或液態(tài)樣品
有害物痕量分析
高精度和準(zhǔn)確度
十分廣泛的應(yīng)用
準(zhǔn)確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全，沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品
無耗品，物超所值