菲希爾X射線測厚儀Fischer代理

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。菲希爾X射線測厚儀它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，菲希爾X射線測厚儀同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischerscope XDL230有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器

比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

Fischer X射線測厚儀由于采用了FISCHER*基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區的合作伙伴,與全系列的產品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設備,努力為客戶解決快速分析的測量技術挑戰,聯合提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。

菲希爾測厚儀

通用規格

設計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。

元素范圍從元素氯（17）到鈾（92）

配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，最多可同時測定24種元素

設計理念臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向由上往下

X射線源

X射線管帶鈹窗口的鎢管

高壓三檔：30KV，40KV，50KV

孔徑（準直器）φ0.3mm　可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm

測量點尺寸取決于測量距離及使用的準直器大小

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

小的測量點大小約φ0.2mm

X射線探測

X射線接收器比例接收器

測量距離0~80mm，使用保護的DCM測量距離補償法

樣品定位

視頻系統高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦，對被測位置進行監控

十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）

可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數40x~160x

電器參數

電源要求200V，50Hz

功率大120W（不包括計算機）

保護等級IP40

尺寸規格

外部尺寸寬x深x高（mm）：570x760x650

內部測量室尺寸寬x深x高（mm）：460x495x（參考“樣品大高度"部分的說明）

重量107KG

環境要求

使用時溫度10℃~40℃

存儲或運輸時溫度0℃~50℃

空氣相對濕度≤95%　無結露

工作臺

設計手動X/Y平臺

X/Y平臺大移動范圍92x150mm

可用樣品放置區域420x450mm

Z軸馬達驅動

Z軸移動范圍140mm

樣品大重量20KG

樣品大高度140mm

激光（1級）定位點有

計算單元

計算機帶擴展卡的Windows®計算機系統

軟件標準：WinFTM®V.6 LIGHT

可選：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER

執行標準

CE合格標準EN 61010

型式許可作為受*保護的儀器

型式許可*符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規的規定